مطياف الانبعاث البصري
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES

سعر ثابت بالإضافة إلى ضريبة القيمة المضافة
‏١٥٬٠٠٠ €
الحالة
مستعمل
الموقع
Borken ألمانيا
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
مطياف الانبعاث البصري Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
more Images
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES
Horiba Jobin Yvon ULTIMA 2 ICP-OES

البيانات الأساسية

اسم الماكينة:
مطياف الانبعاث البصري
الشركة المصنعة:
Horiba Jobin Yvon
طراز:
ULTIMA 2 ICP-OES
الحالة:
جيد جدًا (مستعمل)

السعر والموقع

سعر ثابت بالإضافة إلى ضريبة القيمة المضافة
‏١٥٬٠٠٠ €
الموقع:
Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland ألمانيا
اتصل

تفاصيل العرض

معرّف الإعلان:
A22224962
رقم المرجع:
24348
تحديث:
آخر مرة في 29.06.2026

وصف

Optical Emission Spectrometer
Ultima 2 benchtop unit, sequential spectrometer with a 1m monochromator,
2400 g/mm grating in first and second order, 160-800 nm without image
Rapid overview analysis
IMAGE:
Bsdpfxszhkcco Adkedh
Rapid overview analysis IMAGE NAVIGATOR for JY 2000-2,
JY Ultima 2 or JY Ultima 2C
External closed cooling circuit for cooling the RF coil of the Ultima 2
Argon humidifier – for the analysis of solutions with high salt content.
ULTIMA 2 ICP-OES – Optical Emission Spectrometer
Reliable, highly efficient 40.68 MHz semiconductor generator
Complete and precise wavelength scan from 160 to 800 nm as standard
Highest practical resolution

تمت ترجمة الإعلان تلقائيًا. قد تحدث أخطاء في الترجمة.

مورد

آخر تواجد: الأسبوع الماضي

مسجل منذ: 2012

٦٠٧ إعلانات عبر الإنترنت

Trustseal icon
اتصل

إرسال طلب

أرضus 
ألمانيا
النمسا
سويسرا
الولايات المتحدة الأمريكية
المملكة المتحدة
فرنسا
بلجيكا
إسبانيا
المكسيك
إيطاليا
هولندا
بولندا
الاتحاد الروسي
بيلاروس (جمهورية بيلاروس)
أوكرانيا
إستونيا
تركيا
نيوزيلندا
أيرلندا
جمهورية التشيك
الدانمارك
فنلندا
السويد
النرويج
لوكسمبورغ
اليونان
ليتوانيا
لاتفيا
آيسلندا
البرتغال
البرازيل
فنزويلا
الأرجنتين
المجر
سلوفاكيا
رومانيا
مولدوفا
سلوفينيا
صربيا
الجبل الأسود
ألبانيا
كرواتيا
بلغاريا
مقدونيا الشمالية
البوسنة والهرسك
إسرائيل
مصر
المغرب
الهند
إندونيسيا
كوريا الجنوبية
اليابان
تايلاند
ماليزيا
فيتنام
الصين، جمهورية الصين الشعبية
تايوان
إيران
بنغلاديش
ملاحظة: سيتم إرسال طلبك إلى جميع البائعين في فئة الماكينات. وبهذه الطريقة يمكنك الحصول على العديد من العروض.
تعذر إرسال الطلب. يرجى المحاولة مرة أخرى لاحقًا.

هاتف & فاكس

+49 2861 ... إعلانات
قد تهمك أيضًا هذه الإعلانات.
إعلان صغير
نظام التفتيش بالأشعة السينية AMTEC XRI 410HS
more images
ألمانيا Hamburg
٣٬٤٣٤ km
نظام التفتيش بالأشعة السينية
AMTECXRI 410HS
اتصل
إعلان صغير
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد GE Additive Arcam EBM Q20plus
more images
إستونيا Vääna
٣٬٦٥٩ km
طابعة معدنية ثلاثية الأبعاد
GE AdditiveArcam EBM Q20plus
اتصل
إعلان صغير
آلة القياس البصري، مجهر القياس Mahr MS400 Multisensor
آلة القياس البصري، مجهر القياس Mahr MS400 Multisensor
آلة القياس البصري، مجهر القياس Mahr MS400 Multisensor
آلة القياس البصري، مجهر القياس Mahr MS400 Multisensor
آلة القياس البصري، مجهر القياس Mahr MS400 Multisensor
آلة القياس البصري، مجهر القياس Mahr MS400 Multisensor
more images
ألمانيا Saarbrücken
٣٬٢٢٩ km
آلة القياس البصري، مجهر القياس
MahrMS400 Multisensor
اتصل
إعلان صغير
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
ICP-OES مطياف محلل العناصر Thermo Fisher Scientific iCAP 6300 Duo
more images
ألمانيا Borken
٣٬٤٣٢ km
ICP-OES مطياف محلل العناصر
Thermo Fisher ScientificiCAP 6300 Duo
تاجر معتمد
اتصل
إعلان صغير
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
آلة قياس إحداثيات Renishaw InVia Raman Microscope Spectrometer
more images
أيرلندا أيرلندا
٤٬٣٠١ km
آلة قياس إحداثيات
RenishawInVia Raman Microscope Spectrometer
اتصل
إعلان صغير
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث Agilent 7500 Series G3155A
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث Agilent 7500 Series G3155A
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث Agilent 7500 Series G3155A
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث Agilent 7500 Series G3155A
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث Agilent 7500 Series G3155A
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث Agilent 7500 Series G3155A
more images
المجر Győr
٢٬٥٩٠ km
مطياف الكتلة البلازمية المقترنة بالحث
Agilent7500 Series G3155A
اتصل
إعلان صغير
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
مجهر Olympus CKX53SF Inverted Microscope Phas
more images
بلجيكا Puurs-Sint-Amands
٣٬٥٠٣ km
مجهر
OlympusCKX53SF Inverted Microscope Phas
اتصل
إعلان صغير
مقياس الطيف الامتصاصي الذري مزود بجهاز كمبيوتر Analytik Jena GmbH+Co. KG AAS ContrAA 700
مقياس الطيف الامتصاصي الذري مزود بجهاز كمبيوتر Analytik Jena GmbH+Co. KG AAS ContrAA 700
more images
ألمانيا Dresden
٣٬٠٥٦ km
مقياس الطيف الامتصاصي الذري مزود بجهاز كمبيوتر
Analytik Jena GmbH+Co. KGAAS ContrAA 700
اتصل